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百特新一代粒度粒形綜合分析系統集多項技術于一體

更新時間:2019-04-08      點擊次數:1787
Bettersize3000plus激光圖像粒度粒形分析儀是激光散射+顯微圖像二合一的粒度粒形分析儀,采用斜入射雙鏡頭技術,測量下限達0.01μm,測量上限達到3500μm,提高了粗顆粒端的測量精度。同時對激光法數據和圖像法數據進行融合,得出更加準確的粒度測試結果,得出粒形分析信息(圓形度、長徑比等)。

新一代粒度粒形分析系統Bettersize3000plus集激光散射技術、顯微圖像技術和折射率測量技術于一體,可測“粒度+粒形+折射率”,是一款的顆粒綜合分析系統,粒度測試范圍達0.01-3500μm,可同時分析球形度、粗糙度、銳度等粒形信息,粒度粒形同時測試,這正是磨料粒度粒形分析所需。相信這一新技術新儀器必定會提升磨料磨具材料粒度粒形分析精度,成為磨料行業節能減排、提質增效的利器。

該儀器還采用了樣品折射率測量技術,對未知折射率的新材料也能得到的粒度測試結果。本儀器采進口半導體泵浦激光器,壽命大于25000小時;采用進口的高精度透鏡組,保證了微弱的、各角度的散射光信號無一漏網;采用進口的高速CCD與高像遠心鏡頭,成像清晰無拖尾現象;采用高速顆粒識別技術,每分鐘可分析幾萬個顆粒數目。總之,該儀器是集激光散射、顯微成像于一體的新一代粒度測試儀器。

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